<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">alternative</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Альтернативная энергетика и экология (ISJAEE)</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Alternative Energy and Ecology (ISJAEE)</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">1608-8298</issn><publisher><publisher-name>Международный издательский дом научной периодики "Спейс</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.15518/isjaee.2015.19.011</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">alternative-168</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ВОЗОБНОВЛЯЕМАЯ ЭНЕРГЕТИКА</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>RENEWABLE ENERGY</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>ОСОБЕННОСТИ МЕТОДОВ КАЛИБРОВКИ ИМИТАТОРА СОЛНЕЧНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ПРИ КОНТРОЛЕ ЭНЕРГОПРОИЗВОДИТЕЛЬНОСТИ МНОГОПЕРЕХОДНЫХ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МОДУЛЕЙ</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>APPROACH TO CALIBRATION OF SOLAR SIMULATOR FOR MONITORING  THE ENERGY GENERATION BY MULTI-JUNCTION PHOTOVOLTAIC MODULES</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Богомолова</surname><given-names>С. А.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Bogomolova</surname><given-names>S. A.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>старший преподаватель кафедры «Промышленный менеджмент и сертификация», ФГБОУ ВПО «ЧГУ им. И.Н. Ульянова»</p></bio><bio xml:lang="en"><p>senior lecturer of the “Industrial Management and Certification” department, Chuvash State University</p></bio><email xlink:type="simple">s_bogomolova@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>ФГБОУ ВПО «Чувашский государственный университет имени И.Н. Ульянова»&#13;
Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы (ФГУП ВНИИМС)</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Chuvash State University&#13;
All-Russian scientific research institute of metrological service</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2015</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>15</day><month>11</month><year>2015</year></pub-date><volume>0</volume><issue>19</issue><fpage>82</fpage><lpage>87</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Международный издательский дом научной периодики "Спейс, 2015</copyright-statement><copyright-year>2015</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Международный издательский дом научной периодики "Спейс</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Международный издательский дом научной периодики "Спейс</copyright-holder><license xlink:href="https://www.isjaee.com/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://www.isjaee.com/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.isjaee.com/jour/article/view/168">https://www.isjaee.com/jour/article/view/168</self-uri><abstract><p>В статье проведен анализ методов настройки (калибровки) имитаторов солнечного излучения при измерении вольт-амперных характеристик полноразмерных многопереходных фотоэлектрических модулей (ФЭМ). Обоснован выбор метода настройки (калибровки) имитатора по параметрам «энергетическая освещенность» и «спектральная плотность энергетической освещенности» с использованием эталонного однопереходного ФЭМ и многопереходного ФЭМ. Отмечены преимущества применения данного метода в производственных условиях.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The article summarizes the methods of solar simulators adjustment (calibration) in measuring current-voltage characteristics of the full-sized multi-junction photovoltaic modules. There is substantiated a choice of the method for adjustingthe parameters “irradiance” and “spectral irradiance” with using single-junction and multi-junction reference photovoltaic modules. The advantages of using this method in mass-production are underlined.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>фотоэлектрический модуль</kwd><kwd>калибровка имитатора солнечного излучения</kwd><kwd>эталонный модуль</kwd><kwd>энергетическая освещенность</kwd><kwd>спектральная плотность энергетической освещенности</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>photovoltaic module</kwd><kwd>solar simulator calibration</kwd><kwd>reference module</kwd><kwd>irradiance</kwd><kwd>spectral irradiance</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ 8.195 – 2013.ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений спектральной плотности энергетической яркости, спектральной плотности силы излучения, спектральной плотности энергетической освещенности, силы излучения и энергетической освещенности в диапазоне длин волн от 0,2 до 25,0 мкм.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">GOST 8.195–2013.GSI. Gosudarstvennaâ pov-eročnaâ shema dlâ sredstv izmerenij spektralʹnoj plotnosti ènergetičeskoj ârkosti, spektralʹnoj plotnosti sily izlučeniâ, spektralʹnoj plotnosti ènergetičeskoj osveŝen-nosti, sily izlučeniâ i ènergetičeskoj osveŝennosti v dia-pazone dlin voln ot 0,2 do 25,0 mkm (in Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ Р МЭК 60904-3-2013. Государственная система обеспечения единства измерений. Приборы фотоэлектрические. Часть 3. Принципы измерения характеристик фотоэлектрических приборов с учетом стандартной спектральной плотности энергетической освещенности наземного солнечного излучения.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">GOST R MÈK 60904-3-2013. Gosudarstvennaâ sistema obespečeniâ edinstva izmerenij. Pribory fotoèlektričeskie. Častʹ 3. Principy izmereniâ harakteristik fotoèlektričeskih priborov s učetom standartnoj spek-tralʹnoj plotnosti ènergetičeskoj osveŝennosti nazemnogo solnečnogo izlučeniâ (in Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Колтун М.М. Оптика и метрология солнечных элементов. М.: Наука, 1985.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Koltun M.M. Optika I metrologiâ solnečnyh èle-mentov. Moscow: Nauka Publ., 1985 (in Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Guidelines for PV power measurement in industry (compiled by the European Commission Joint Research Center). Belgium, 2010.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Guidelines for PV power measurement in industry (compiled by the European Commission Joint Research Cen-ter). Belgium, 2010 (in Eng.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Pravettoni M. et al. An alternative method for spectral response measurements of large-area thin-film photovoltaic modules // Prog. Photovolt: Res. Appl. 2012. V. 20. P. 416–422.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Pravettoni M. et al. An alternative method for spectral response measurements of large-area thin-film photovoltaic modules. Prog. Photovolt: Res. Appl., 2012, vol. 20, pp. 416–422 (in Eng.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Hishikawa Y.et al. Irradiance and wavelength de-pendence of the I-V charateristics of solar cells // 12th International Photovoltaic Science and Engineering Con-ference (PVSEC-12), Korea, 2001. P. 129–130.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Hishikawa Y.et al. Irradiance and wavelength de-pendence of the I-V charateristics of solar cells. 12th Interna-tional Photovoltaic Science and Engineering Conference (PVSEC-12), Korea, 2001, pp. 129–130 (in Eng.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ Р МЭК 60904-7-2013 Государственная система обеспечения единства измерений. Приборыфотоэлектрические. Часть 7. Вычисление поправки на спектральное несоответствие при испытаниях фотоэлектрических приборов.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">GOST R MÈK 60904-7-2013 Gosudarstvennaâ sistema obespečeniâ edinstva izmerenij. Priboryfoto-èlektričeskie. Častʹ 7. Vyčislenie popravki na spektralʹnoe nesootvetstvie pri ispytaniâh fotoèlektričeskih priborov (in Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ Р МЭК 60904-8-2013. Государственная система обеспечения единства измерений. Приборы фотоэлектрические. Часть 8. Измерение спектральной чувствительности фотоэлектрических приборов.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">GOST R MÈK 60904-8-2013. Gosudarstvennaâ sistema obespečeniâ edinstva izmerenij. Pribory fotoèlektričeskie. Častʹ 8. Izmerenie spektralʹnoj čuvstvi-telʹnosti fotoèlektričeskih priborov (in Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Staebler D.L., Wronsky C.R. Reversible Conduc-tivity Changes in Discharge Produced Amorphous Si // Appl. Phys. Lett. 1977. V. 31, No 4. P. 292–294.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Staebler D.L., Wronsky C.R. Reversible Conductiv-ity Changes in Discharge Produced Amorphous Si. Appl. Phys. Lett. 1977, vol. 31, no. 4, pp. 292–294 (in Eng.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
