<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">alternative</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Альтернативная энергетика и экология (ISJAEE)</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Alternative Energy and Ecology (ISJAEE)</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">1608-8298</issn><publisher><publisher-name>Международный издательский дом научной периодики "Спейс</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.15518/isjaee.2015.21.002</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">alternative-195</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ВОЗОБНОВЛЯЕМАЯ ЭНЕРГЕТИКА</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>RENEWABLE ENERGY</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>ВЛИЯНИЕ ОТРАЖЕНИЯ ФОТОЭЛЕКТРОНОВ ОТ ПОВЕРХНОСТИ НА ФОТОЭДС В ТОНКИХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛЕНКАХ И СРАВНЕНИЕ ЕЕ С ОБЪЕМНОЙ ФОТОЭДС</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>INFLUENCE OF REFLECTION OF PHOTOELECTRONS FROM THE SURFACE PHOTO-EMF IN THIN SEMICONDUCTOR FILMS AND COMPARE IT WITH THE BULK PHOTO-EMF</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Гулямов</surname><given-names>Г.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Gulyams</surname><given-names>G.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>д-р физ.-мат. наук, проф. кафедры «Физика»</p><p> </p></bio><bio xml:lang="en"><p>doctor of Physical and Mathematical Sciences, Professor of “Physics”</p></bio><email xlink:type="simple">gulyamov1949@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Дадамирзаев</surname><given-names>М. Г.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Dadamirzayev</surname><given-names>M. G.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"/><bio xml:lang="en"><p>Ph.D. in Physical and Mathematical Sciences, Head of the Department “Physics” </p></bio><email xlink:type="simple">gulyamov1949@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Шарибаев</surname><given-names>Н. Ю.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Sharibaev</surname><given-names>N. Yu.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>канд. физ.-мат. наук, доцент кафедры «Высшая математика»</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Ph.D. in Physical and Mathematical Sciences, Associate Professor of the Department of “Higher Mathematics”</p></bio><email xlink:type="simple">sharibayevniti@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Наманганский инженерно-педагогический институт Республика Узбекистан, 160103, Наманган, пр. Дустлик, д. 12</institution><country>Узбекистан</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Namangan Engineering-Pedagogical Institute &#13;
12 Dustlik ave., Namangan, 160103, Republic of Uzbekistan</institution><country>Uzbekistan</country></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff-2"><aff xml:lang="ru"><institution>Наманганский инженерно-технологический институт Республика Узбекистан, 160115, Наманган, ул. Касансай, д. 7</institution><country>Узбекистан</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Namangan Engineering-Technological Institute &#13;
7 Kasanay str., Namangan, 160115, Republic of Uzbekistan</institution><country>Uzbekistan</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2015</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>05</day><month>04</month><year>2016</year></pub-date><volume>0</volume><issue>21</issue><fpage>20</fpage><lpage>23</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Международный издательский дом научной периодики "Спейс, 2016</copyright-statement><copyright-year>2016</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Международный издательский дом научной периодики "Спейс</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Международный издательский дом научной периодики "Спейс</copyright-holder><license xlink:href="https://www.isjaee.com/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://www.isjaee.com/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.isjaee.com/jour/article/view/195">https://www.isjaee.com/jour/article/view/195</self-uri><abstract><p>Исследовано влияние отражения фотоэлектронов от поверхности на фотоЭДС в тонких полупроводниковых пленках и проведено ее сравнение с объемной фотоЭДС. Показано, что отраженная фотоЭДС может преобладать над объемной электродвижущей силой только в образцах с большой длиной свободного пробега при сильном поглощении света. В тонких пленках отраженная фотоЭДС, по-видимому, наблюдается вместе с другими видами фотоЭДС и при интерпретации результатов эксперимента может быть истолкована как объемная электродвижущая сила. </p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The influence of the reflection of photoelectrons from the surface photo-EMF in thin semiconductor films and compare it with the bulk photo-EMF. It is shown that the reflected photovoltage can prevail over the bulk of the electromotive force only in samples with a large mean free path with a strong absorption of light. In thin films reflected the photo-EMF, apparently observed with other types of photo-EMF and the interpretation of the experimental results can be interpreted as the volume electromotive force. </p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>фототок</kwd><kwd>тонкие пленки</kwd><kwd>длина свободного пробега</kwd><kwd>фотонапряжения</kwd><kwd>реактивные токи</kwd><kwd>фотоЭДС</kwd><kwd>косонапыленные пленки</kwd><kwd>ЭДС Дембера</kwd><kwd>интенсивность света</kwd><kwd>коэффициент поглощения света</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>photocurrent</kwd><kwd>thin films</kwd><kwd>the mean free path</kwd><kwd>the voltage</kwd><kwd>reactive currents</kwd><kwd>the photo-EMF</kwd><kwd>oblique sputtered film</kwd><kwd>the EMF Dember</kwd><kwd>the intensity of light</kwd><kwd>the light absorption coefficient</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Рахимов Н.Р., Серьезнов А.Н. АФН пленки и их применение. Монография. Новосибирск: Изд-во «Новосибирск», 2005.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Rahimov N.R., Ser'eznov А.N. АFN plenki i ih primenenie. Monografiâ. Novosibirsk: Izd-vo «No-vosibirsk», 2005.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Као К., Хуанг В. Перенос электронов в твердых телах. В 2-х т. М.: Мир, 1984.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kao K., Huang V. Perenos èlektronov v tverdyh telah. V 2-h t. M.: Mir, 1984.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Адирович Э.И., Рубинов В.И., Юабов Ю.М. О природе АФН эффекта // ДАН СССР. 1966. Т. 168. С. 1037.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Аdirovič È.I., Rubinov V.I., Ûabov Û.M. O prirode АFN èffekta // DАN SSSR. 1966. T. 168. S. 1037.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Безногов М.В., Сурис Р.А. Теория баллистических токов, ограниченных объемным зарядом, в наноструктурах разной размерности // Физика и техника полупроводников (Санкт Петербург). 2013. Т. 47, № 4. С. 493-502.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Beznogov M.V., Suris R.А. Teoriâ ballističeskih tokov, ograničennyh ob"emnym zarâdom, v nano strukturah raznoj razmernosti // Fizika i tehnika poluprovodnikov (Sankt Peterburg). 2013. T. 47, № 4. S. 493-502.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Саченко А.В., Снитко О.В. Фотоэффекты в приповерхностных слоях полупроводников. Киев: Наукова думка, 1984.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sačenko А.V., Snitko O.V. Fotoèffekty v pripoverhnostnyh sloâh poluprovodnikov. Kiev: Naukova dumka, 1984.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Белиничер В.И., Рывкин С.М. Реактивная фотоэлектродвижущая сила в полупроводниках // Журнал экспериментальной и теоретической физики. 1981. № 10. С. 353-360.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Beliničer V.I., Ryvkin S.M. Reaktivnaâ fotoèlektrodvižuŝaâ sila v poluprovodnikah // Žurnal èksperimental'noj i teoretičeskoj fiziki. 1981. № 10. S. 353-360.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ивченко Е.Л., Пикус Г.Е. Фотогальванические эффекты в полупроводниках // Сб. статей: Проблемы современной физики. Л.: Наука, 1980. С. 275-293.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ivčenko E.L., Pikus G.E. Fotogal'vaničeskie èffekty v poluprovodnikah // Sb. statej: Problemy so-vremennoj fiziki. L.: Nauka, 1980. S. 275-293.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гулямов Г., Бойдедаев С.Р., Дадамирзаев М.Г., Гулямов А. Аномально большие фотонапряжения в полупроводниковых пленках, обусловленные реактивной фотоЭДС // Альтернативная энергетика и экология – ISJAEE. 2007. № 5(49). С. 103-107.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gulâmov G., Bojdedaev S.R., Dadamirzaev M.G., Gulâmov А. Аnomal'no bol'šie fotonaprâženiâ v poluprovodnikovyh plenkah, obuslovlennye reaktivnoj fotoÈDS // Аl'ternativnaâ ènergetika i èkologiâ – ISJAEE. 2007. № 5(49). S. 103-107.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гулямов Г., Дадамирзаев М.Г., Гулямов А. Реактив ЭЮК ни Дембер ЭЮК билан солиштириш // Рост, свойства и применение кристаллов: Тез. докл. респ. науч. конф. 11-12 апреля 2008. Андижан, 2008. С. 138.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gulâmov G., Dadamirzaev M.G., Gulâmov А. Reaktiv ÈÛK ni Dember ÈÛK bilan solištiriš // Rost, svojstva i primenenie kristallov: Tez. dokl. resp. nauč. konf. 11-12 aprelâ 2008. Аndižan, 2008. S. 138.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Бонч-Бруевич В.Л., Калашников С.Г. Физика полупроводников. М.: Наука, 1977.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Bonč-Bruevič V.L., Kalašnikov S.G. Fizika poluprovodnikov. M.: Nauka, 1977.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
